贺化（右二）会见日本审查员

　　国知网讯　7月22日上午，国家知识产权局副局长贺化在京会见了来访的三名日本特许厅专利审查员。

　　贺化指出，日本专利审查员来国家知识产权局进行长期业务考察访问，尚属首次。他希望日本审查员通过这次访问能够有所收获，发现两局在专利审查实务方面的异同，为提高审查效率及质量提出建议。他希望通过此次活动继续保持两局良好关系，为两局的发展做出贡献。

　　7月14-25日，日本特许厅派三名资深专利审查员来国家知识产权局进行为期两周的考察访问。期间，日本特许厅审查员就审查实务与国家知识产权局审查员进行一对一的探讨与交流，并访问专利代理公司和专利复审委员会。日本审查员还开设了有关日本特许厅分类检索的讲座。